1. X射線熒光膜厚測量設備（型號：kSA XRF）

隨著工業產線檢測技術的不斷發展，k-Space推出了新產品，kSA XRF（X射線熒光膜厚測量設備）。由于金屬薄膜和介電薄膜上的膜層厚度過薄，所以通過光學方法測量其厚度是不可靠的，kSA XRF系統的推出主要就是為了解決該問題。它可以在線測量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。

kSA XRF系統主要由X射線管、高壓發生器和X射線探測系統組成。該系統可識別 X 射線發射光譜的光譜峰值，并收集峰值強度信息以供進一步分析。系統可根據您的鍍膜方案及測量需求來測試對應的原子種類。另外，可將此設備集成到現有的 QC 系統中，并通過警報提示實時記錄薄膜的厚度。

2. 反射率及顏色測量工具（型號：kSA RCM）

新產品 kSA RCM（反射率及顏色測量工具）可測量實時光譜反射率和顏色，以確保樣品表面（如玻璃和太陽能電池板）反射的一致性。

該設備可實時測量反饋樣品的反射率及顏色的變化情況，用于工藝的流程控制，對產品的產量和質量起著重要作用。kSA RCM包含一個連接到雙線性平臺系統的光學頭，用于掃描面板。它發射一束光束打在面板表面，之后由光譜儀收集反射光譜，接著由 k-Space 軟件分析并存儲采集的數據，測量光譜反射率和 Lab* 顏色參數。k-Space 可以將此技術集成到現有的 QC 系統、PLC 或工廠數據庫中。

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