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EUV極紫外波前傳感器
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EUV極紫外波前傳感器

波前傳感器,又稱波前探測器、波前分析儀,是用于**測量和分析光學波前的設備。通過實時測定動態入射波前的相位畸變,為波前重構及校正提供信息。
產品品牌 PRO
產地類別 德國
產品型號 EUV/XUV
廠商性質 代理商
產品詳情
彩頁介紹

波前傳感器,又稱波前探測器、波前分析儀,是用于**測量和分析光學波前的設備。通過實時測定動態入射波前的相位畸變,為波前重構及校正提供信息。


夏克 - 哈特曼波前傳感器:由微透鏡陣列和光電探測器(CCD 或 CMOS)組成。平行入射光束經微透鏡陣列,每個微透鏡將光束匯聚到 CCD 上形成聚焦點。理想平面波經微透鏡后成像位置為零點,畸變波前的聚焦成像點與零點的偏差可計算出波前的局部斜率,進而獲取波前信息。


優點:靈活性高、適應性廣、光譜范圍寬,結構緊湊,對環境擾動抗干擾能力較強,波前重建算法輕量級,可實現高速波前重建。



主要特點

        Hartmann波前傳感器(相干和非相干輻射)

        緊湊結構

        光化性能檢測

            -EUVL 等離子源

            -自由電子激光

            -HHG高次諧波束

        實時光學調整

        單個脈沖重復性:λ/116 (wrms),for EUV (λ =13.5 nm)


圖片17.png


技術規格

        波長范圍:<1nm~60nm(量子轉換涂層)

        視場:9mmX6.7mm(可選更大尺寸)

        動態范圍:14Bit

        Hartmann 盤:precision pinholes ?75μm, 250μm pitch

        傾角:±10°

        XY調節范圍:±10mm

        UHV兼容:CF63法蘭

圖片18.png圖片19.png

Wavefront measurement of Free Electron Laser FLASH

(DESY/Hamburg) at λ=13.5nm, before (above) and after

(below) adjustment of beam line optics (B. Fl?ter, K.

Mann, K. Tiedtke et al. NIM A 635, S108–S112 (2011) )


圖片20.png

Spot pattern @ λ=1.5 nm

(LCLS / Stanford)


圖片21.png

Reconstructed intensity profile


光束測試軟件

光束測試軟件.png


測試基于ISO標準

Parameter

Standard

Beam diameter光束直徑

ISO 11146

Divergence發散

ISO 11146

Beam profile光束剖面

ISO 13694

Pointing 指向/ pos. Stability位置穩定性

ISO 11670

M2 質量因子/ Focusability聚焦性

ISO 11146

Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布

ISO 15367

Coherence 相干

-

Around 20 various camera types are supported





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